天瑞儀器thick800aX射線無(wú)損傷鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹

Thick800a是一款基于無(wú)損傷XRF原理的鍍層測(cè)試技術(shù)，有效分析范圍0到50微米，測(cè)試5層以內(nèi)的金屬鍍層厚度。與其他測(cè)厚儀相比，x射線熒光無(wú)損傷鍍層測(cè)厚儀的精度要遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出。

天瑞儀器是X射線無(wú)損傷鍍層測(cè)厚儀三大品牌之一，天瑞的thick800a滿足各種金屬層不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求，φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求，高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度，定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊，鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)，高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)。

產(chǎn)品結(jié)構(gòu)圖：

技術(shù)指標(biāo)

1、儀器尺寸：

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，

特殊測(cè)試時(shí)，可開(kāi)蓋，對(duì)樣品長(zhǎng)度無(wú)限制

檢測(cè)開(kāi)槽口時(shí)，厚度10mm以上，寬度和深度沒(méi)有限制。

樣品臺(tái)尺寸：230(W)×210(D)mm

移動(dòng)范圍：50(X)mm， 50(Y)mm

Z軸升降平臺(tái)升降范圍：0-140mm

2、儀器重量：90kg

3、SDD半導(dǎo)體探測(cè)器：

探測(cè)器輸入電壓：±12V，+5V

探頭窗口面積：25mm-2---

探頭窗口厚度：0.5mil

分辨率：140±5eV

探頭內(nèi)制冷溫度：<-40℃

4、X射線光管：

管壓：5-50kV

管流：0-1mA

靶材：W靶

窗口：鈹窗

制冷方式：風(fēng)冷

工作溫度：≤75℃

5、高壓發(fā)生器：

輸入電壓：24V

輸入較大電流：5A

管壓：0-50kV

管流：0-2mA

燈絲較大電壓：5V

燈絲較大電流：3.5A

6、MCA多道分析器：

輸入電壓：±12V，+5V

采樣頻率：100 KHZ

脈沖幅度：0-7.6V

A/D位數(shù)：12位

分析道數(shù)：2048道

7、準(zhǔn)直器系統(tǒng)：

準(zhǔn)直器：?0.1 mm(可根據(jù)要求選配)

濾光片：Mo(可根據(jù)要求選配)

8、高清晰攝像頭：

傳感器類型：CCD（彩色）

接口：USB2.0

傳感器廠商：索尼

快門(mén)類型：面陣

光學(xué)尺寸：1/4英寸

有效像素：659(H)×494（V）

有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)

像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：

感應(yīng)度：0.58V（索尼標(biāo)準(zhǔn)）

顏色排列：RGB

幀率：30fps

快門(mén)速度：1/1538-1/30（秒）

9、自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)：

通用數(shù)字激光傳感器、CMOS激光傳感器

良好的射線屏蔽作用，測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)。Thick800A是基于X射線熒光無(wú)損分析原理的快速鍍層測(cè)驗(yàn)，是一款上招式設(shè)計(jì)的，自帶三維移動(dòng)平臺(tái)，XYZ可定點(diǎn)，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)。這款功能強(qiáng)大的儀器，配上天瑞儀器專門(mén)為其開(kāi)發(fā)的鍍層測(cè)厚軟件，在鍍層檢測(cè)中可謂大展身手。

實(shí)現(xiàn)樣品測(cè)試譜圖，高清，譜線明顯。

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).

金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。

產(chǎn)品輻射報(bào)告：

江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的高科技企業(yè)，注冊(cè)資本46176萬(wàn)。旗下?lián)碛刑K州天瑞環(huán)境科技有限公司、北京邦鑫偉業(yè)技術(shù)開(kāi)發(fā)有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環(huán)境科技（仙桃）有限公司五家全資子公司和廈門(mén)質(zhì)譜儀器儀表有限公司、江蘇國(guó)測(cè)檢測(cè)技術(shù)有限公司、上海磐合科學(xué)儀器股份有限。

涂層膜厚測(cè)試儀原理

　　涂層膜厚測(cè)試儀被廣泛應(yīng)用于測(cè)量從0.1到50微米各種薄膜材料的厚度。無(wú)論單層或多層薄膜，簡(jiǎn)單的球磨測(cè)試都能快速準(zhǔn)確的測(cè)定每一層薄膜的厚度。典型的試樣包括CVD、 PVD、等離子噴射涂層、陽(yáng)極氧化薄膜、離子濺射薄膜、化學(xué)和電鍍沉積鍍膜、高分子薄膜、涂料、釉漆等等。

　　原理：一個(gè)半徑精確已知的磨球由自身重力作用于鍍膜試樣表面并進(jìn)行自轉(zhuǎn)。在測(cè)試過(guò)程中，磨球與試樣的相對(duì)位置以及施加于試樣的壓力保持恒定。磨球與試樣間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)以及金剛石顆粒研磨液的共同作用將試樣表面磨損出一球冠形凹坑。 隨后的金相顯微鏡觀測(cè)可以獲得磨損坑內(nèi)涂層和基體部分投影面積的幾何參數(shù)。在得知了X和Y的長(zhǎng)度后，涂層的厚度D可以通過(guò)簡(jiǎn)單的幾何公式計(jì)算得出。