膜厚儀與涂層測厚儀的差別

膜厚儀一般來說和涂層測厚儀是一類產(chǎn)品。

膜厚儀一般是測氧化膜層厚度，常見的鋁基，銅基氧化，測量時候用涂層測厚儀選擇N（非磁性）探頭，這樣測鋁基等氧化層也稱為膜厚儀。

涂層測厚儀正常情況下有兩種測量原理，配F合N探頭，或者FN一體探頭。氧化層一般是幾微米到十幾微米，但是普通的涂層測厚儀誤差比較大，需要用高精度的涂層測厚儀測量氧化層.

兩者是只是根據(jù)材料有細微區(qū)別，不過現(xiàn)在使用者很多不了解，也相互稱呼。

膜厚儀的使用

測定準備

（1）確保電池正負極方向正確無誤后設(shè)定。

（2）探頭的選擇和設(shè)定：在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準測定對象，在本體上進行設(shè)定。

測定方法

（1）探頭的選擇和安裝方法：確認電源處于OFF狀態(tài)，與測定對象的質(zhì)地材質(zhì)接觸

（2）調(diào)整：確認測定對象已經(jīng)被調(diào)整。未調(diào)整時要進行調(diào)整。

（3）測定：在探頭的末端加一定的負荷，即使用[一點接觸定壓式]。抓住與測定部接近的部分，迅速在與測定面成垂直的角度按下。下述的測定，每次都要從探頭的前端測定面開始離開10mm以上。使用管狀的東西連續(xù)測定平面時，如果采用探頭適配器，可以更加穩(wěn)定地進行測定。