EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35-70
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm

XRF測試儀產(chǎn)品特點：操作界面簡單，測量方便，快捷無損檢測，在無標準樣品時亦可準確分析采用1275eV的高精度分辨率，保證數(shù)據(jù)測量的精度。進口高端DSP數(shù)字處理芯片能夠檢測鹵族元素的含量電控全自動機蓋升降軟件控制同置高清晰攝像頭，可幫助客戶判斷測量的部位電制冷型的X光管配合光管保養(yǎng)程序，散熱更好，并能有效的X光管的壽命外觀高貴，加大儀器內(nèi)部空間，儀器內(nèi)部通風性優(yōu)，并有效屏蔽電磁干擾采用獨特位快速自動校準。自動譜線識別、多元素同時定性定量分析、讓用戶方便認識分析樣品的組成國際ling先的定量分析算法，包含F(xiàn)P法、檢量線法、經(jīng)驗系數(shù)法、理論系數(shù)法、網(wǎng)絡算法等客戶可根據(jù)自已的要求進行二次開發(fā)，自行開發(fā)任意多個分析方法設置了自動安全防護開關，以確保用戶安全使用。


XRF測試儀產(chǎn)品介紹及應用范圍：環(huán)保是世界的潮流，不斷出現(xiàn)的環(huán)境污染事件，世界各國都陸續(xù)了相關控制商品中有害元素含量的法規(guī)，而且對有害元素的限制值呈日漸降低的趨勢。面對這市場需求，秉譜儀器，無微不至的精神，采用zui新技術，特別設計了520L系列的X熒光光譜儀。應用領域：金屬冶金行業(yè)微量元素的分析及金屬中微量有害元素的分析環(huán)保土壤、空氣及水等介質(zhì)中痕量重金屬的分析金屬成品制造行業(yè)樹脂膜層中微量元素的分析,貴金屬行業(yè)中微量對人體有害元素微量元素的分析,稀土行業(yè)中微量元素的分析,金屬鍍層行業(yè)金屬鍍層亞納米級厚度的分析,外貿(mào)出口行業(yè)中對人體有害元素微量的分析,玩具出口行業(yè)中八大中金屬微量元素的分析.

合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）
天瑞儀器公司為合金測試專門開發(fā)的儀器類型。
具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。
同時具有合金測試、合金牌號分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。
性能特點:
高效超薄窗X光管
針對合金的測試而開發(fā)的專用配件
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素，對Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性；
XRF分析儀器是利用X射線無損檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

性能特點

高效超薄窗X光管，指標達到國際先進水平
新的數(shù)字多道技術，讓測試更快，計數(shù)率達到0CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

技術參數(shù)

產(chǎn)品型：EDX 4500H
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35-70
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

標準配置

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結(jié)構
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵

應用領域

合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）
ICP測試儀和XRF測試儀哪個更適合?選ICP測試儀還是XRF測試儀?這恐怕對于工作內(nèi)容主要做催化劑的原料和成品的金屬含量分析的實驗員來說，是很容易出現(xiàn)的疑問了。如果從購置價格、使用成本和方便程度、分析結(jié)果可靠性等幾個方便，到底哪種方法更勝一籌?XRF測試儀除了被用來進行材料表面的定性檢測，可用來測量元素的總含量嗎?準確嗎?ICP測試儀檢測是僅僅對元素進行表面定性分析嗎?它跟XRF測試儀有什么區(qū)別?針對這些疑問，看看七嘴八舌的們?nèi)绾握f?你挺誰?XRF測試儀不但在元素定性上有ICP測試儀無可比擬的優(yōu)點，同時在定量上同樣可以和任何一種元素分析儀器相媲美(和制樣有關)。所以這條上應該是XRF測試儀和ICP測試儀都可以定量。A：XRF測試儀，樣品基本不用前處理，而用ICP測試儀，樣品需要進行化學處理為溶液。對于XRF測試儀來說，樣品的前處理有很大的技巧性。塊狀金屬，基本上磨一下測量面就可以了，非塊狀樣品如果采用壓片法那就要求你磨至一定的粒度以下，要不粒度效應會比較嚴重。采用熔融法肯定是處理樣品的一種方式了，只不過形成的是一種固體溶液。而ICP測試儀毫無疑問必須溶成溶液。B：XRF測試儀可以迅速定性，元素定性方面無人能比，像紅外在有機官能團定性一樣迅速。定量方面，相比看來ICP測試儀定量較為簡單實在，易于操作。XRF測試儀做標樣和樣品處理需要配套的制樣設備，包括壓片機和熔樣爐等，不易操作。但是不能下XRF測試儀不能定量的結(jié)論，相對于測純金屬、合金含量分析，我認為XRF測試儀是比ICP測試儀更合適!我們實驗室就是把XRF測試儀+ICP測試儀配合起來用，利用XRF測試儀定性優(yōu)勢配合ICP測試儀前處理及基體匹配，從而做到定量方便快捷。C：這個要看你的待測組分的含量和你的測試要求了，畢竟這兩臺儀器的各有各的優(yōu)勢和缺點。我建議買一臺EDXRF測試儀就夠了，能快速無損定性半定量。你送出去測試前做一次心里有個底，找個靠譜的通過CNAS認證的實驗室做一下，基本問題不會很大，真的要購買儀器的話這個真心沒有底。有的公司就為了測催化劑中的氯買了一臺40W美元的WDXRF測試儀。D：請果斷選擇ICP測試儀，雖然價格和使用程度上來說相對困難，但是結(jié)果可靠性比XRF測試儀高出光年倍。E：XRF測試儀定性分析還是比較方便，但是定量的結(jié)果沒有ICP測試儀好，就算有標樣進行校正也存在誤差;但是ICP測試儀比較適合微量分析，主體成分的話容易帶入稀釋誤差。F：如果是測液體中的金屬離子含量用ICP測試儀當然很好，但是只適用于微量元素，含量較好的測不出來，如果采用稀釋的方法也可以，但是誤差會增大，這個要看你要求的測量精度了!G：都很準的啊，但看具體元素了，一般XRF測試儀主要測固體粉末，ICP測試儀測能溶的固體和液體!H：XRF測試儀是檢測物質(zhì)中各種氧化物和元素的含量，以及成分分析。ICP測試儀一般應用于溶液中化合物離子的含量分析。多數(shù)認為XRF測試儀在表面化學分析方面很準，但是必須購買對應的標準品，用來繪制標準曲線。此外，XRF測試儀的樣品需要前處理的，也必須滿足很多條件，比如表面光滑、成分均勻才能保證結(jié)果的準確。比如粉碎或者融片之類的，都是為了讓成分均勻。而ICP測試儀測溶液中的PPM級的元素含量。如果保證操作得當、曲線配置好的話，結(jié)果也會相當準。所以說沒有不好的分析方法，只有不適合的分析方法，看了這么多的觀點，您應該知道自己在面對ICP測試儀和XRF測試儀時該選擇哪種方法了吧!


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