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重金屬光譜儀EDX1800B
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產(chǎn)品描述

元素范圍從S到U 檢測限1ppm 分辨率160ev 重復(fù)性0.1 分析時間30s到200s 環(huán)境溫度15-30度 電源電壓220v 整機(jī)功率500w
天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細(xì)技術(shù)資料介紹,天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測儀EDX1800b產(chǎn)品報(bào)價(jià)和說明。一鍵式設(shè)計(jì)的xrf測試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測試和分析,無需化學(xué)前處理的特性,適合工廠提供分析效率,簡化測試手段。
完全滿足于黃銅成分分析以及其他金屬樣品的成分分析
應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管,提供了產(chǎn)品的可靠性
利用新X光管提高儀器的測試效率,并優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高防護(hù)等級
不添加任何硬件設(shè)施既可升級分析功能,方便靈活的隨未來發(fā)展的分析需要增加分析元素及合金種類
采用多參數(shù)的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低
檢測時間短,可以大大提高工作效率
重金屬光譜儀EDX1800B
儀器應(yīng)用領(lǐng)域優(yōu)勢:
設(shè)備可以有效的對檢測、鎘、鉛、、銅、鋅、鎳、鈷、釩等重金屬污染:精度分析,微量金屬元素成分盡在掌握,選用自主研制的數(shù)字多道及原裝進(jìn)口分辨率探測器,提高設(shè)備的穩(wěn)定性及元素之間的相互干擾,并提高了元素的檢出限。
重金屬光譜儀EDX1800B
應(yīng)用領(lǐng)域
固廢快速檢測
地礦與合金(銅、不銹鋼等)成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測
主要用于固廢行業(yè)、貴金屬加工和飾加工行業(yè);銀行、飾銷售和檢測機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)
儀器配置
樣品平臺
信噪比增強(qiáng)器
SDD探測器
檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
重金屬光譜儀EDX1800B
工作原理
X熒光光譜ROHS檢測儀工作原理是由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X 射線(一次射線),激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線,并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次射線的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將控測系統(tǒng)所收集的信息轉(zhuǎn)換成樣品中的各種元素的種類及含量。利用X射線熒光原理,測試出待測產(chǎn)品的元素含量。
ROHS檢測儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語知識
1.精密度
定義為同一樣品多次測定的平均值m和各次測定值mi之差。換句話說,精密度是重現(xiàn)性(Reproducibility或Repeatability)。X熒光分析 的精度是和測量的時間有關(guān)的,測量的時間越長,則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測同一款樣品的連續(xù)測試十一次或二十一次的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.準(zhǔn)確度
定義為各次測定值mi對于真值(t)的偏差。因而,若精密度差,準(zhǔn)確度也一定差。反之,準(zhǔn)確度很差,精密度確有時很高。這是因?yàn)橛袝r可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性(Reliability)好,精密度和準(zhǔn)確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計(jì)算的,所以,通常情況下,把統(tǒng)計(jì)漲落引起的誤差作為測量的誤差。
5.檢出限(Limit of detection)
當(dāng)獲得背景強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)偏差三倍以上的峰值強(qiáng)度時的元素含量,稱為檢出限(或叫檢出限)。這時候,測到的含量的置信度(可信的程度)是99.87%.測定檢出,一般要用含量比較低的樣品來測量。檢出限因所用試樣(基體)的不同而不同。
6.計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差
在放射性物質(zhì)的測量中,假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機(jī)械在現(xiàn)性可確保,由儀器機(jī)械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計(jì),但計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差還是不能。X射線強(qiáng)度是把入射到計(jì)數(shù)器上的光子變成脈沖后計(jì)數(shù)而得到的。因而計(jì)數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計(jì)誤差。 被測X射線的計(jì)數(shù)值(N)的分布屬于隨機(jī)事件,其標(biāo)準(zhǔn)偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計(jì)誤差。時間越長,則相對偏差越小,即精度越高。
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產(chǎn)品推薦

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